Athena ADIR-T系列插損/回損一體化測試站

ADIR-161型光纖插回損測試儀是ATHENA開發研製出的帶微處理器的精密光檢測儀表，具有 性能價格比。是用於光有源器件和光無源器件的回波損耗測試及設備裝配檢查、生產質量檢測的最理想的測量工具，是光纖通信系統研究、開發和生產，以及施工、維護等部門必備的基本測試儀器。

ADIR-161型光纖插回損測試儀可以進行寬動態範圍及高精度的光回波損耗測量。由於採用了大動態範圍和微弱信號檢測等 的信號處理和軟件處理技術，具有當前國際 水平。

性能特點：

- 操作簡單，測量回波損耗及插入損耗過程中無需任何按鍵

- 測試速度快，回損、插損分別顯示，測試結果一目瞭然, 減輕操作人員視覺疲勞

- 回損/插損測試波長同步自動設定, 減少操作步驟

- 可同時完成雙波長測試

- 一機多用，經濟實惠（可用作光插回損儀、臺式光功率計、臺式光源）

- 光源接頭可拆卸方便捷清潔，並提供全面的功率計接口配置

- 可將測試數據保存在電腦上，方便記錄

操作簡單： 在測量回損及插損過程中無需任何按鍵操作，回損/插損值分別在一台儀器上的兩個液晶窗口顯示，測試結果一目瞭然。儀器將零值及參考值等參數自動存儲在其內部，即便是儀器斷電后再開機，正常情況下不需重複校準。

波長自動同步設定：在回損模式下，儀器將自動同步設定光源及功率計在同一測試波長；功率計模式時，可單獨設定功率測試波長。

多種工作模式：儀器可設定的工作模式有：

- 1310nm測試，用於測試1310nm的回損及插損。

- 1550nm測試，用於測試1550nm的回損及插損。

- 雙波長1310/1550nm測試，用於同時測試1310/1550nm雙波長的回損及插損（標準產品為雙光源）。

- 光功率計模式，用作為高動態範圍（-70dBm）、高精度光功率計。

- 該測試站也可用作為高穩定激光源，起到一機多用的作用。

雙波長測試：儀器內置的雙波長測試模式將測試雙波長1310/1550nm的回損及插損，雙波長的回損/插損值將通過光源波長鍵切換顯示在LCD上。

光學接口易於清潔：光功率計採用活動接口，可輕易卸下以便對光探測器進行清潔，或更換其它型號適配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等，用於測試各種型號跳線。回損測試部分的FC/APC接口採用特殊結構，可輕易卸下對內部光纖接口端面進行清潔。同時，所有光學接口都具有防塵設計。

人體工學設計：儀器整機外觀緊湊、美觀、實用。面板採用按鍵開關設計，手感良好，外殼採用高質量鋁塑機箱，確保儀器性能不受生產環境下可能存在的電氣干擾。LCD屏對比度高，並採用白色高亮LED作背光，顯示清晰。儀器支架可隨意調節，並配有提手，適應不同要求，符合人體工學。

測試精度高：儀器內部採用 的微電子技術以及高質量光學器件，配合精心編程的內置軟件，使得儀器光源輸出功率高且極其穩定，測量範圍寬，測試速度快，具有驚人的測量準確性以及重複性。

技術指標：

產品組成：
主機; 電源線; FC/SC/ST/ 通用φ2.5mm / 通用φ1.25mm適配器;

說明書; FC/APC－FC/APC跳線一根; FC/APC－FC/PC跳線一根;

清潔棉簽; 光盤; 另可選配USB線。

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